x射线探伤
γ射线探伤
射线探伤是利用射线、γ射线和中子射线易于穿透物体，并在穿透物体过程中受到吸收和散射而衰减的性质，在感光材料上获得与材料内部结构和缺陷相对应的黑度不同的图像，从而检测出物体内部缺陷的种类、大小、分布状况，并作出评价。